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UV LED光源によるメッキ剥がれ検査の特徴とは?

UV LEDによるメッキ剥がれ検査とは?

メッキ剥がれ検査で見つけたい欠陥

メッキ剥がれ検査では、メッキ層の剥離、浮き、欠け、ピンホール、下地露出、微細な傷などを確認します。部品の外観品質だけでなく、導電性、耐食性、組付け後の信頼性に関わる場合があります。

欠陥が小さい、表面が光る、下地との色差が小さいといった条件では、目視や通常照明で安定して見つけにくくなります。そこで、波長や照射角度を変えて剥がれ部分の差を強調する検査が検討されます。

通常照明では検出しにくい理由

メッキ面は光沢があり、通常照明では反射が強く出やすい対象です。正反射がカメラに入ると、剥がれや傷よりもハイライトが目立ち、画像処理で安定したしきい値を設定しにくくなります。

また、メッキ層と下地材の色差が小さい場合、可視光だけでは十分な濃淡差が得られないことがあります。表面反射を抑える条件と材質差を出す条件を探ることが重要です。

UV LEDでコントラストを強調できる仕組み

UV LED光源を使うと、表面状態、材質、酸化、汚れ、下地露出などの違いが、可視光とは異なる反射や蛍光の差として現れる場合があります。これにより、剥がれ部分と正常部分の見え方を変えられます。

特に365nmや395nmなどのUV-A領域は、産業用検査で比較されやすい波長です。UVで必ず剥がれが見えるのではなく、対象材質との相性を検証することが前提です。

メッキ剥がれ検査で「UV LED光源」を使うメリット

剥がれ部分と正常部分の差を強調しやすい

UV LED光源は、通常照明では似て見える部分の差を強調できる場合があります。メッキ層と下地材でUVの反射や吸収が異なれば、剥がれ部分を明暗差として捉えやすくなります。

画像処理では、欠陥と正常面の濃度差が安定しているほど判定しやすくなります。検査対象に合う波長でコントラストを作ることが、UV LED光源を使う狙いです。

画像処理で判定しやすい画像を取得しやすい

メッキ剥がれは、サイズや形が不規則で、反射条件によって見え方が変わります。UV LED光源で欠陥部の明暗差を作れると、二値化、輪郭抽出、面積判定などの画像処理に乗せやすくなります。

ただし、反射ムラや照射ムラが強いと誤検出が増えます。欠陥よりも照明ムラが目立たない撮像条件を作ることが重要です。

微細な表面欠陥の検出に活用しやすい

UVは可視光より短波長であるため、表面の微細な状態差が出やすい場合があります。微細な傷、荒れ、剥がれ始めなど、通常照明では見落としやすい変化を確認する候補になります。

一方で、表面粗さや汚れも強調される可能性があるため、良品ばらつきとの切り分けが必要です。欠陥だけを強調し、許容範囲の変化を拾いすぎない条件を探りましょう。

UV LED光源を用いたメッキ剥がれ検査の事例

通常照明では判別しにくいメッキ剥がれの検出

メッキ面は光沢や反射の影響を受けやすく、通常照明では剥がれ部分のコントラストが十分に出ない場合があります。ユーテクノロジーの事例では、特殊な波長を照射することでメッキの剥がれ部分のコントラストを強調し、画像処理で判断しやすくしています。

UV LED光源を用いることで、正常部分と剥がれ部分の反射・吸収の違いを画像上に出しやすくなります。メッキ材質や下地材によって見え方が変わるため、365nm・395nmなどの波長比較と照射角度の検証が重要です。

参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/1757

メッキ剥がれ検査用UV LED光源の選び方

メッキ材質と下地材の反応差を確認する

メッキ剥がれ検査では、メッキ材質と下地材の反応差が画像上に出るかを確認します。ニッケル、クロム、金、銀、すずなど、材質や表面処理によってUVでの見え方は異なります。

良品、不良品、境界サンプルを用意し、同じ条件で比較することが大切です。正常面と剥がれ部の差が再現性よく出るかを選定基準にしましょう。

365nmと395nmのどちらが適するか検証する

365nmと395nmはいずれもUV検査で使われる代表的な波長ですが、画像の明るさ、反射、蛍光、可視成分の影響が異なります。対象物によっては365nmで差が出やすく、別の対象では395nmが扱いやすい場合もあります。

カメラ感度やフィルターの条件も含めて比較しましょう。波長単体ではなく撮像システム全体で最適化することが必要です。

反射・蛍光・散乱の出方を確認する

UV LED光源を当てたとき、画像差は反射、蛍光、散乱など複数の要因で生まれます。どの要因で欠陥が見えているのかを理解すると、照明角度やフィルターを調整しやすくなります。

不要な反射が強い場合は、斜光、偏光、フィルター、照射位置の変更を検討します。欠陥の見え方を安定させる光学条件を作り込むことが重要です。

画像処理しやすいコントラストが出る照射条件を選ぶ

最終的に重要なのは、画像処理で安定判定できる画像が得られることです。見た目で差があっても、良品ばらつきや位置ずれで判定が揺れる場合は、照射条件を見直す必要があります。

照明の明るさ、角度、距離、ワーク姿勢、露光時間を固定し、量産時の変動も含めて検証しましょう。工程内で再現できる条件を選ぶことが、実用化のポイントです。

メッキ剥がれ検査向けUV LED光源を取り扱うメーカー

「UV LED メッキ 剥がれ 検査」と検索して上位10位以内に表示された公式サイトのうち、メッキ剥がれ検査に使用できるLED光源を紹介します。(2026年6月12日調査時点)

UV照明 UVシリーズ(株式会社ユーテクノロジー)

  • 分類:画像処理用LED照明
  • 波長:365nm、395nm
  • 用途:メッキ剥がれ、蛍光体励起、可視光では難しい検査

ユーテクノロジーのUV照明は、メッキ剥がれなど通常照明ではコントラストが出にくい検査に活用できます。365nm・395nmの2種類が用意されており、剥がれ部分と正常部分の見え方に合わせて検証できます。

THREE SELECTIONS
【検査目的別】
外観検査に適した
LED光源装置3選

検査工程では、用途に応じて必要な明るさで対象を照らすことが求められます。
しかし目的によって必要な光の条件が異なり、装置の選定に迷うケースも少なくありません。
こうした現場での課題に応えるため、検査目的別に適したLED光源装置をおすすめ3選を紹介します。

μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレ
正確に測ることができる
ユーテクノロジー
製品画像
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/product/2531)
導入しやすい業界例
  • 半導体業界
  • 電子部品業界など
要件を満たせる検査例
  • 寸法検査
  • 位置ずれ検出
  • 貼り合わせ精度検査
  • パターンずれ検出
  • 形状検査
ユーテクノロジーが
選ばれる理由
  • 特許取得※1の非結像光学系により、1,000nm以上のSWIR領域でも鮮明に映し出す
  • 自社製造の光源とファイバーにより、適切な組み合わせで光ロスやムラを抑制して微細欠陥を可視化
  • 半導体のPINアサイン確認や基板実装後の部品検査など、高精度検査の導入実績あり※2
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物
安定的に検出できる
アイテックシステム
製品画像
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/)
導入しやすい業界例
  • 自動車部品業界
  • 食品・飲料業界など
要件を満たせる検査例
  • 異物混入検査
  • 欠け検出
  • バリ検出
  • 色ムラ検査
アイテックシステムが
選ばれる理由
  • 230,000lxの高照度でコントラストが明瞭になり、微細な不良を見逃しにくい
  • LANや端子台で照明制御が可能で、カメラやPLCとも連携しやすく自動検査の構築がスムーズ
  • 冷却と定電流制御で照度が安定し、常時点灯や連続稼働が前提でも判定ブレが起きにくい
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良
はっきり確認できる
中央精機
製品画像
画像引用元:中央精機公式HP(https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955)
導入しやすい業界例
  • 化粧品・日用品業界
  • 電気機械器具業界など
要件を満たせる検査例
  • ラベル位置検査
  • 印字抜け検査
  • 印字不良検査
  • ネジの有無検査
  • 組付けミス
  • 方向ずれ検査
中央精機が
選ばれる理由
  • 約45,000lxの自然な明るさで、ラベル印字の擦れやかすれをはっきり確認
  • ダイヤルで直感的に調光でき、作業者や環境に合わせた見え方調整ができる
  • 筐体幅80mm未満・高さ144mmのコンパクト設計で、狭い作業空間にも設置しやすい
※1 特許7060932 参照元:J-PlatPat(特許情報プラットフォーム)公式HP(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja
※2 参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case
検査のイメージ

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