LED光源装置×外観検査の選定ガイド｜ケンサコウ

ケイエルブイのLED光源装置

目次

ケイエルブイは、ライン組み込みや、研究開発時といった多様なニーズに対応したLED光源装置を手がけている企業です。

本記事では、ケイエルブイが提供しているLED光源装置の特徴をまとめ、主な製品ラインナップ、活用事例についてもご紹介しています。

ケイエルブイ
画像引用元：ケイエルブイ公式サイト
https://www.klv.co.jp/
波長・検査目的別に
LED光源装置おすすめ3選を見る

ケイエルブイの
主なLED光源装置

UV照射器(LED) ALE/2

画像引用元：ケイエルブイ公式サイト
https://www.klv.co.jp/product/uv-irradiation-device/ale2.html
本体構成LED紫外線光源装置
輝度記載なし
波長385nm,
LED寿命記載なし
調光範囲8Bitデジタル調光
調光方式記載なし
冷却方式純正の冷却システムを併せて提供

ALE/2は、従来の放電ランプを上回る高出力や高安定を実現した装置です。内蔵するLEDは選択可能となっており、LEDで高安定のため、ランニングコスト削減につながります。LEDモジュールは簡単に交換が可能であり、アプリケーションの変更にも柔軟に対応可能です。

UV照射器(LED) ALE/3

klv2
画像引用元：ケイエルブイ公式サイト
https://www.klv.co.jp/product/uv-irradiation-device/ale3.html
本体構成LED紫外線光源装置
輝度記載なし
波長365nm or 385nm or 405nm or 436nm
LED寿命要問い合わせ
調光範囲記載なし
調光方式記載なし
冷却方式外付けの冷却装置不要

UV照射器(LED) ALE/3は、UV樹脂硬化や半導体ウエハーの周辺露光の検査に用いられる装置です。2種類のLEDを内蔵可能なため、複数の波長の同時出力が可能となっています。

非破壊検査向け
UV照射器(ランプ) SUPERLITE I04

klv3
画像引用元：ケイエルブイ公式サイト
https://www.klv.co.jp/product/uv-irradiation-device/superlite-I04.html
本体構成蛍光探傷・磁粉探傷用UV光源装置
輝度要問い合わせ
波長320-400nm/400-700nm
LED寿命要問い合わせ
調光範囲要問合せ
調光方式要問い合わせ
冷却方式要問い合わせ

非破壊検査向け UV照射器(ランプ) SUPERLITE I04は、非破壊検査・蛍光探傷の規格と用いられるASTM-E1417-16に準拠している装置です。航空機エンジンや自動車部品の検査など高い水準が用いられる現場で使用できます。UVAと白色光を切り替え可能となっているほか、液体ライトガイドを採用しているのが特徴です。

そのほかの製品

LED光源 ルミナーエース LA-HDF100NA

50Ｗハロゲンランプ光源装置（消費電力75Ｗ）に相当する明るさとなっており、消費電力は10W・およそ86%の消費電力カットを実現可能です。ファンレスなので、クリーンルームなどの環境に最適です。ハロゲンランプの15倍に相当する長寿命であり、ランニングコストの削減が可能です。

LED光源 ルミナーエース LA-HDF8010

LED光源装置として最大光量機種と称されているLED光源 ルミナーエース LA-HDF8010。ACアダプタ方式により、従来品よりも全長をおよそ40％ダウンできるのが特徴です。

LED光源 ルミナーエースLA-HDF1060~1550IR

独自の光学設計を用いたレンズユニットにより、安定した強度を実現している装置。半導体_ウエハ検査やアライメント、パッケージ透過異物検査などの用途に用いられています。

ケイエルブイの
LED光源装置の強み

高安定・高出力
を実現した装置を展開

ケイエルブイでは、これまでの放電ランプを上回る高出力や安定性を実現したLED紫外線光源装置をさまざま取り扱っています。ALE/2は、半導体ウエハーの露光に特化している装置であり、従来の水銀ランプを用いているシステムへ容易に統合可能となっています。

純正の水冷システムを
用意している装置

ケイエルブイで手掛けているALE/2は純正の水冷システムを用意している装置です。そのため、温度管理システムを準備しなくてもよい点が魅力とも言えます。

ASTM-E1417-16に準拠
した装置を取り扱う

同社の取り扱う蛍光探傷・磁粉探傷用UV光源装置は、非破壊検査・蛍光探傷の規格と用いられるASTM-E1417-16に準拠している装置のため、自動車部品や航空機エンジン検査といった高い水準が用いられる現場で使用できます。

ケイエルブイが提供する
LED光源装置の使用例

公式HPに記載がありませんでした。

CHECK
ケイエルブイとあわせて
比較したいLED光源装置は？

ケイエルブイは、UV照射や非破壊検査、半導体ウエハーの露光など、高出力・高安定な光源を検討したい企業に向いている会社です。一方で、外観検査用のLED光源装置は、画像処理・自動検査・目視検査など、検査目的によって重視すべき性能が変わります。

「微細な寸法ズレを測りたい」「欠けや異物を安定して検出したい」「目視検査で印字や組付け不良を見やすくしたい」など、自社の課題に近い目的から比較することで、導入すべきLED光源装置を絞り込みやすくなります。

当サイトでは、LED光源装置メーカーを調査し、外観検査の目的別に3社を厳選して紹介しています。おすすめの業界や導入事例も紹介しているので是非チェックしてみてください。

LED光源装置は、画像処理・自動検査・目視検査など、用途によって求められる性能が異なります。このサイトでは外観検査の目的別におすすめ装置をご紹介。自社に合う光源選びの参考にしてください。

【外観検査向け】
検査目的で選ぶ
LED光源装置3選を見る

ケイエルブイの会社情報

会社名ケイエルブイ株式会社
本社所在地東京都千代田区神田小川町1-1
電話番号【本社・商品センター】03-3258-1238（代表）
公式サイトURLhttps://www.klv.co.jp/

まとめ

ケイエルブイ株式会社は、世界各国の光学機器を取り扱っている光の専門商社です。光学システムの設計・開発をはじめ、施策や量産までトータルでサポートしています。高度化・多様化する顧客のニーズに対し、スピーディーかつ的確にお応えできるよう努めています。

外観検査では、“何をどのように検出したいか”によって、求められる照明の要件が大きく変わります。当サイトでは、装置の特徴と検査目的を掛け合わせ、目的に応じて活用しやすいLED光源装置を厳選しました。

導入やリプレイスを検討している企業の担当者はぜひ参考にしてください。

LED光源装置メーカー
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THREE SELECTIONS
【検査目的別】
外観検査に適した
LED光源装置3選

検査工程では、用途に応じて必要な明るさで対象を照らすことが求められます。
しかし目的によって必要な光の条件が異なり、装置の選定に迷うケースも少なくありません。
こうした現場での課題に応えるため、検査目的別に適したLED光源装置をおすすめ3選を紹介します。

μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレを
正確に測ることができる
ユーテクノロジー
製品画像
画像引用元：ユーテクノロジー公式HP（https://www.u-technology.jp/product/2531）
導入しやすい業界例
  • 半導体業界
  • 電子部品業界など
要件を満たせる検査例
  • 寸法検査
  • 位置ずれ検出
  • 貼り合わせ精度検査
  • パターンずれ検出
  • 形状検査
ユーテクノロジーが
選ばれる理由
  • 特許取得※1の非結像光学系により、1,000nm以上のSWIR領域でも鮮明に映し出す
  • 自社製造の光源とファイバーにより、適切な組み合わせで光ロスやムラを抑制して微細欠陥を可視化
  • 半導体のPINアサイン確認や基板実装後の部品検査など、高精度検査の導入実績あり※2
公式サイトで製品特徴を
詳しく見る
電話で問い合わせる
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物を
安定的に検出できる
アイテックシステム
製品画像
画像引用元：アイテックシステム公式HP（https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/）
導入しやすい業界例
  • 自動車部品業界
  • 食品・飲料業界など
要件を満たせる検査例
  • 異物混入検査
  • 欠け検出
  • バリ検出
  • 色ムラ検査
アイテックシステムが
選ばれる理由
  • 230,000lxの高照度でコントラストが明瞭になり、微細な不良を見逃しにくい
  • LANや端子台で照明制御が可能で、カメラやPLCとも連携しやすく自動検査の構築がスムーズ
  • 冷却と定電流制御で照度が安定し、常時点灯や連続稼働が前提でも判定ブレが起きにくい
公式サイトで製品特徴を
詳しく見る
電話で問い合わせる
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良を
はっきり確認できる
中央精機
製品画像
画像引用元：中央精機公式HP（https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955）
導入しやすい業界例
  • 化粧品・日用品業界
  • 電気機械器具業界など
要件を満たせる検査例
  • ラベル位置検査
  • 印字抜け検査
  • 印字不良検査
  • ネジの有無検査
  • 組付けミス
  • 方向ずれ検査
中央精機が
選ばれる理由
  • 約45,000lxの自然な明るさで、ラベル印字の擦れやかすれをはっきり確認
  • ダイヤルで直感的に調光でき、作業者や環境に合わせた見え方調整ができる
  • 筐体幅80mm未満・高さ144mmのコンパクト設計で、狭い作業空間にも設置しやすい
公式サイトで製品特徴を
詳しく見る
電話で問い合わせる
※1 特許7060932 参照元：J-PlatPat（特許情報プラットフォーム）公式HP（https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja）
※2 参照元：ユーテクノロジー公式HP（https://www.u-technology.jp/case）
検査のイメージ

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