透明Oリングの亀裂検査

目次

Oリングやパッキンは、機械の密閉性や液漏れ防止を担う重要な部品です。特に透明なシリコンOリングは、内部の亀裂や欠陥が視覚的に見えにくく、目視や通常の照明では検出が難しいという特徴があります。本記事では、透明Oリングの亀裂検査でよくある検査用途や、LED光源装置を活用した検査事例、光源選定のポイントを解説します。

透明Oリングでよくある検査用途

  • 内部亀裂の確認:Oリング内部に発生した亀裂や割れなどを確認
  • 表面キズ・欠けの確認:表面に発生したキズや欠け、傷付きなどを確認
  • 異物・汚れの確認:製造工程や取り扱い時に付着した異物や汚れなどを確認
  • 透明素材内部の状態確認:透明な素材内部に発生した欠陥などを、撮像条件を工夫して確認

Oリングは、液体や気体などの漏れを防ぐために使用されるシール部品であるため、亀裂や欠けなどが発生すると、密閉性能に影響する可能性があります。そのため、表面の状態だけでなく、使用する素材や検査目的によっては内部に発生した亀裂や異常を確認することも重要です。

特に透明なシリコンOリングでは、亀裂が周囲の素材となじみ、通常の照明では欠陥部分を画像上で捉えにくい場合があります。また、透明素材の表面では照明の反射やハレーションによって、確認したい部分が見えにくくなることもあります。そのため、検出したい欠陥や素材の特性に合わせて、照射方向や光の波長などを検討し、亀裂や表面状態を明確に撮像できる条件を整えることが重要です。

透明Oリング検査の種類

照射条件を工夫した表面・内部の状態確認

透明Oリングの表面や内部に発生した亀裂などを撮像し、正常な部分との見え方の違いから状態を確認します。透明素材では、通常の照明では亀裂が周囲の素材になじんで見えにくくなることがあります。

そのため、素材の特性や検出したい欠陥に応じて、照射する光の波長や照射方向などを検討し、亀裂部分と正常部分の違いを画像上で捉えやすくすることが重要です。

透過照明による表面・内部検査

透過照明で内部の異物や欠陥を撮像します。透明ワーク特有の反射やハレーションを抑える照明設計が求められます。

透明Oリングの外観検査事例

透明シリコンOリングの亀裂検出事例

透明シリコンOリング亀裂検出(課題)
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP
https://www.u-technology.jp/case/1325
課題:弾力のあるゴム製品では亀裂が塞がったように見えて認識できない

弾力のあるゴム製品である透明シリコンOリングでは、亀裂が見た目再生されたようになり、通常の光では亀裂の認識ができないという課題がありました。

透明シリコンOリング亀裂検出(結果)
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP
https://www.u-technology.jp/case/1325
結果:照射波長の工夫で光の透過条件を変え亀裂を可視化

照射波長を工夫することで、素材内での光の透過条件が変化し、亀裂部分と正常部分のコントラストが確保できるようになりました。これにより、目視では見えにくい亀裂を安定して認識できるようになった事例です。

透明Oリング検査のポイント

透明Oリングやゴム部品の検査では、素材の光透過特性を活かすことが重要です。亀裂が塞がって見える場合は、波長を変えて透過条件を変えることで欠陥を可視化できます。透明ワーク特有のハレーションやたわみによる明るさ変動には、拡散光バー照明や照射角度の工夫が有効です。実際のワークで波長・照射方法を試したうえで最適な条件を選定するとよいでしょう。

CHECK
透明Oリングの検査に適したLED光源装置を選ぶには?

「透明素材の亀裂が塞がったように見えて認識できない」「たわみで撮像条件が安定しない」「目視では検出できない微細な欠陥を確認したい」など、透明Oリングの検査現場ではさまざまな課題があります。

だからこそ、透明素材の特性や検出したい欠陥に合わせて、光の波長や照射方法を検討し、亀裂部分と正常部分の違いを明確に撮像できる条件を整えることがポイントです。用途に合ったLED光源装置を選定することで、透明Oリングの亀裂や表面状態を確認しやすい撮像環境の構築につながります。

THREE SELECTIONS
【検査目的別】
外観検査に適した
LED光源装置3選

検査工程では、用途に応じて必要な明るさで対象を照らすことが求められます。
しかし目的によって必要な光の条件が異なり、装置の選定に迷うケースも少なくありません。
こうした現場での課題に応えるため、検査目的別に適したLED光源装置をおすすめ3選を紹介します。

μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレ
正確に測ることができる
ユーテクノロジー
製品画像
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/product/2531)
導入しやすい業界例
  • 半導体業界
  • 電子部品業界など
要件を満たせる検査例
  • 寸法検査
  • 位置ずれ検出
  • 貼り合わせ精度検査
  • パターンずれ検出
  • 形状検査
ユーテクノロジーが
選ばれる理由
  • 特許取得※1の非結像光学系により、1,000nm以上のSWIR領域でも鮮明に映し出す
  • 自社製造の光源とファイバーにより、適切な組み合わせで光ロスやムラを抑制して微細欠陥を可視化
  • 半導体のPINアサイン確認や基板実装後の部品検査など、高精度検査の導入実績あり※2
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物
安定的に検出できる
アイテックシステム
製品画像
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/)
導入しやすい業界例
  • 自動車部品業界
  • 食品・飲料業界など
要件を満たせる検査例
  • 異物混入検査
  • 欠け検出
  • バリ検出
  • 色ムラ検査
アイテックシステムが
選ばれる理由
  • 230,000lxの高照度でコントラストが明瞭になり、微細な不良を見逃しにくい
  • LANや端子台で照明制御が可能で、カメラやPLCとも連携しやすく自動検査の構築がスムーズ
  • 冷却と定電流制御で照度が安定し、常時点灯や連続稼働が前提でも判定ブレが起きにくい
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良
はっきり確認できる
中央精機
製品画像
画像引用元:中央精機公式HP(https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955)
導入しやすい業界例
  • 化粧品・日用品業界
  • 電気機械器具業界など
要件を満たせる検査例
  • ラベル位置検査
  • 印字抜け検査
  • 印字不良検査
  • ネジの有無検査
  • 組付けミス
  • 方向ずれ検査
中央精機が
選ばれる理由
  • 約45,000lxの自然な明るさで、ラベル印字の擦れやかすれをはっきり確認
  • ダイヤルで直感的に調光でき、作業者や環境に合わせた見え方調整ができる
  • 筐体幅80mm未満・高さ144mmのコンパクト設計で、狭い作業空間にも設置しやすい
※1 特許7060932 参照元:J-PlatPat(特許情報プラットフォーム)公式HP(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja
※2 参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case
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