オプテックス・エフエーのLED光源装置
オプテックス・エフエー株式会社は、FA用センサや画像処理・画像検査用LED照明、照明コントローラを展開するメーカーです。
指定された公式ページはLED照明本体ではなく、照明の調光・点灯・状態監視を担う「LED照明用電源・コントローラ」の製品一覧です。本記事では、外観検査システムでLED照明を制御する主要シリーズを紹介します。
画像引用元：オプテックス・エフエー公式HP
https://www.optex-fa.jp/
https://www.optex-fa.jp/
オプテックス・エフエーの
主なLED光源装置
多機能LED照明コントローラ OPPXシリーズ
| 製品種別 | LED照明コントローラ |
|---|---|
| 対応照明 | DC12V・DC24V入力照明 |
| 調光方式 | PWM・定電圧・ストロボオーバードライブ |
| 最大容量 | 200W |
| 他社製照明 | 接続可能 |
| 監視機能 | FALUX sensing＋ |
| 主な用途 | 複数照明の統合制御 |
OPPXシリーズは、12V・24V入力のLED照明に対応し、他社製照明も接続できるコントローラです。PWM、定電圧、ストロボオーバードライブの3方式を1台で利用できます。
イーサネット対応 OPPD-30E
| 製品種別 | LED照明コントローラ |
|---|---|
| 通信 | Ethernet |
| 通信設定 | DHCP対応 |
| 調光書換速度 | 約6ms／2ch |
| 監視機能 | 輝度モニタリング |
| 外部制御 | PC・PLC |
| 主な用途 | 照明の予知保全・遠隔制御 |
OPPD-30Eは、Ethernet経由で調光・点灯制御を設定できるコントローラです。「FALUX sensing」によりLED照明の明るさ低下を把握し、予知保全につなげられます。
そのほかの製品
OPPD-15シリーズは、48×72×30mmの小型筐体で、最大1MHzのPWM周波数に対応します。高速シャッターやラインカメラを使用する検査工程の照明制御に利用できます。
オプテックス・エフエーの
LED光源装置の強み
照明の明るさを監視・管理
対応照明の個体識別、輝度モニタリング、フィードバック制御により、経時変化による明るさの低下を管理できます。
複数の調光方式と照明を統合
PWM、定電圧、ストロボオーバードライブに対応し、12V・24V照明や他社製照明を含めた制御系の統一を検討できます。
PLC・ネットワークとの連携
EthernetやEtherNet/IP、三菱電機iQSSに対応するシリーズがあり、画像検査装置を生産設備の制御ネットワークへ組み込みやすい構成です。
CHECK
オプテックス・エフエーとあわせて
比較したいLED光源装置は？
比較したいLED光源装置は？
同社の指定製品は、照明そのものよりも調光・点灯・輝度管理を重視する検査ラインに適したコントローラです。導入時は接続する照明の電圧、容量、調光方式も確認しましょう。
当サイトでは、LED光源装置メーカーを調査し、外観検査の目的別に3社を厳選して紹介しています。おすすめの業界や導入事例も紹介しているので是非チェックしてみてください。
オプテックス・エフエーの会社情報
| 会社名 | オプテックス・エフエー株式会社 |
|---|---|
| 本社所在地 | 〒600-8815 京都市下京区中堂寺粟田町91 京都リサーチパーク9号館 |
| 電話番号 | 075-325-2930 |
| 公式サイトURL | https://www.optex-fa.jp/ |
まとめ
オプテックス・エフエーは、LED照明の点灯・調光だけでなく、明るさの監視やネットワーク管理まで行えるコントローラを展開しています。画像検査ラインの省配線化や予知保全を進めたい場合の候補です。
THREE SELECTIONS
【検査目的別】
外観検査に適した
LED光源装置3選
外観検査に適した
LED光源装置3選
検査工程では、用途に応じて必要な明るさで対象を照らすことが求められます。
しかし目的によって必要な光の条件が異なり、装置の選定に迷うケースも少なくありません。
こうした現場での課題に応えるため、検査目的別に適したLED光源装置をおすすめ3選を紹介します。
μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレを
正確に測ることができる
寸法や位置ズレを
正確に測ることができる
ユーテクノロジー
画像引用元：ユーテクノロジー公式HP（https://www.u-technology.jp/product/2531）
導入しやすい業界例
- 半導体業界
- 電子部品業界など
要件を満たせる検査例
ユーテクノロジーが
選ばれる理由
選ばれる理由
- 特許取得※1の非結像光学系により、1,000nm以上のSWIR領域でも鮮明に映し出す
- 自社製造の光源とファイバーにより、適切な組み合わせで光ロスやムラを抑制して微細欠陥を可視化
- 半導体のPINアサイン確認や基板実装後の部品検査など、高精度検査の導入実績あり※2
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物を
安定的に検出できる
欠けや異物を
安定的に検出できる
アイテックシステム
画像引用元：アイテックシステム公式HP（https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/）
導入しやすい業界例
- 自動車部品業界
- 食品・飲料業界など
要件を満たせる検査例
アイテックシステムが
選ばれる理由
選ばれる理由
- 230,000lxの高照度でコントラストが明瞭になり、微細な不良を見逃しにくい
- LANや端子台で照明制御が可能で、カメラやPLCとも連携しやすく自動検査の構築がスムーズ
- 冷却と定電流制御で照度が安定し、常時点灯や連続稼働が前提でも判定ブレが起きにくい
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良を
はっきり確認できる
印字や組付け不良を
はっきり確認できる
中央精機
画像引用元：中央精機公式HP（https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955）
導入しやすい業界例
- 化粧品・日用品業界
- 電気機械器具業界など
要件を満たせる検査例
中央精機が
選ばれる理由
選ばれる理由
- 約45,000lxの自然な明るさで、ラベル印字の擦れやかすれをはっきり確認
- ダイヤルで直感的に調光でき、作業者や環境に合わせた見え方調整ができる
- 筐体幅80mm未満・高さ144mmのコンパクト設計で、狭い作業空間にも設置しやすい
※1 特許7060932 参照元：J-PlatPat（特許情報プラットフォーム）公式HP（https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja）
※2 参照元：ユーテクノロジー公式HP（https://www.u-technology.jp/case）
※2 参照元：ユーテクノロジー公式HP（https://www.u-technology.jp/case）
