ユーテクノロジーのLED光源装置

目次

ユーテクノロジー

ユーテクノロジーは、µm精度の寸法測定や位置ずれ検出に適した検査用LED光源装置を提供しているメーカーです。本記事では、ユーテクノロジーが提供するLED光源装置の特徴や主な製品ラインナップ、活用事例についてご紹介します。

ユーテクノロジー
画像引用元:ユーテクノロジー公式サイト
https://www.u-technology.jp/

ユーテクノロジーの
主なLED光源装置

UFLS-501-12IR-1060-UT-EI-FB
(ハイパワー近赤外LED
光源シリーズ・SWIR帯域)

ユーテクノロジー UFLS-501-12IR-1060-UT-EI-FB(ハイパワー近赤外LED光源シリーズ・SWIR帯域)
画像引用元:ユーテクノロジー公式サイト
https://www.u-technology.jp/product/2531
本体構成ファイバー出力型/COB多素子LED/非結像光学系
輝度代表値:放射束 約6.2 W
波長ピーク1,060nm(全7波長)
LED寿命約23,000時間(最大調光・40℃条件の場合)
調光範囲8bit=10–FF(240段)[FB時20–FF(224段)]
10bit=40–3FF(960段)[FB時80–3FF(890段)]
アナログ=0.32~5.00V(約960段)[FB時0.64–5.00V(約890段)]
調光方式電流可変制御
冷却方式強制空冷(吸気口: 正面、排気口: 背面)

バックライト方式の寸法測定や、基準マークの位置ずれ検出の再現性向上に貢献。また、LANやRS-232C、アナログ入力による外部制御に対応しており、撮像条件をライン側から一貫して管理できます。

光量フィードバックと強制空冷により出力を安定維持。SWIR特性を活かした樹脂内部の透過観察や、包装シール部の内容物可視化などの外観用途にも応用可能です。

UFLS-501-08IR-850-UT
(ハイパワー近赤外LED
光源シリーズ・NIR帯域)

ユーテクノロジー UFLS-501-08IR-850-UT(ハイパワー近赤外LED光源シリーズ・NIR帯域)
画像引用元:ユーテクノロジー公式サイト
https://www.u-technology.jp/product/1707
本体構成非結像光学系
輝度出力光束
波長ピーク855nm
LED寿命30,000時間(代表値または期待値です。保証値ではありません)
調光範囲手動調光:デジタル設定(224段階)/外部シリアル:RS232C通信(224段階)/外部デジタル:8bitパラレル信号(224段階)/外部アナログ:0~5V(約960段階)
調光方式電流可変制御
冷却方式強制空冷(吸気口:正面、排気口:背面)

メタルハライド光源の置換えを想定したモデル。非結像光学により、同等サイズでも高いカップリング効率と均一照射が可能です。

調光はデジタル240階調・アナログ約960階調。RS-232C/パラレル/アナログ制御と最大20kHz点滅に対応し、金属外観や蛍光観察など多様な検査を立ち上げやすくします

UFLS-12-12RGBW2-UT-DC24
(ハロゲン光源相当LED
光源シリーズ)

ユーテクノロジー 高輝度LED検査用点光源装置
画像引用元:ユーテクノロジー公式サイト
https://www.u-technology.jp/product/1025
本体構成光ファイバ(ライトガイド)用/RGBW各色独立調光/SECC筐体
輝度要問い合わせ
波長632nm(typ.)/520nm(typ.)/449nm(typ.)
LED寿命30,000時間(参考値)
調光範囲マニュアル:前面アナログボリューム(10bit)
リモート:RS-232C(10bit)、8bitデジタル(8bit)/アナログ調光電圧0~5VDC(10bit)
調光レスポンス(typ.)
アナログ:50msec
8bitデジタル:1msec(トリガ信号受信から)
シリアル:700usec(データ受信完了から)
調光方式定電流方式・電流可変調光
冷却方式強制空冷

RGB3色と白色を独立/一括で調光でき、対象物に合わせた色・明るさを簡単に切替可能。ハロゲン同等の操作性を保ちながら、省手間でフリッカーレス検査を行えます。

リングやラインなどのライトガイド先端で色・明るさを再現しやすく、印字やラベルの見え方調整、素材ごとの色合わせに適しています。

そのほかの製品

UFLS-751-12W-UT
(メタハラ光源相当ハイパワー
LED光源シリーズ)

従来機(UFLS-75)比150%の明るさモデルも用意。多段調光や高速点滅を単体で備えています

UFLS-501-12RGBUV-UT
(メタハラ光源相当ハイパワー
LED光源シリーズ)

ライトガイド用のハイパワーR・G・B・UV LED光源で、非結像光学により端面へ均一・高照度に結合。標準でRS-232C・8bitデジタル・0–5Vアナログの外部制御と点灯モード反転に対応しています。

UFLS-75-12W-UT
(メタハラ光源相当ハイパワー
LED光源シリーズ)

ライトガイド用の白色ハイパワーLED光源。非結像光学で端面へ均一・高照度に結合し、RS-232C/8bitデジタル/0–5Vの標準外部制御(240/960段)と点灯モード反転を備えています。

UFLS-751-08W-UT-EI
(メタハラ光源相当ハイパワーLED光源シリーズ・イーサネット接続モデル)

光ファイバ用の高輝度LED光源。出力光束3500lm・CCT 6000–8500K、定電流発光&電流可変調光、イーサネット(RJ45/TCPサーバの8/10bit調光)を標準搭載し、手動/RS-232C/8bitパラレル/0–5Vでも調光可能です。

UFLS-12-08IR-UT
(ハロゲン光源相当LED
光源シリーズ)

ライトガイド用のIR(850nm)ハロゲン相当LED光源。ハロゲン150W以上の出力(参考:400 W/m²)を実現し、AC100–230V駆動・強制空冷の筐体に前面ツマミ+RS-232C/8bitデジタル/0–5Vの調光、外部ON/OFF・極性反転・アラーム機能を備えており、現場運用しやすい装置です。

ユーテクノロジーの
LED光源装置の強み

特許取得の技術で
視野全体を均一に照射

ユーテクノロジーは、非結像光学系(特許取得済)を採用しています。光を拡散させるのではなく、ファイバー端面での照度ムラを抑えることで、視野全域で均一な配光を実現。その結果、画像処理における輪郭抽出や基準マーク認識が安定し、μm単位での寸法測定や位置ズレ判定を正確に行うことが可能です。

さらに、光源とファイバーを自社で開発・製造しているため、用途に応じた組み合わせ設計が可能。「波長や照度が合わず欠陥を見逃す」「段取り替えごとに照明を調整する手間がかかる」などの現場の課題を解消し、検査の安定化と生産性向上に貢献します。

※特許7060932 参照元:J-PlatPat(特許情報プラットフォーム)公式HP(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja

一体設計と自動光量調整
による安定制御

光源・ファイバー・放熱構造・ドライバを一体化した設計により、温度変化や経時変化に強い安定した光を供給します。必要に応じて高速点灯・外部トリガに対応するモデルも選べるほか、内蔵センサーが光量を常にチェックし、自動で明るさを一定に調整。

ライン立ち上げから量産稼働まで一貫して安定した照度を保ち、μm単位の測定精度を高めます

ユーテクノロジーが提供する
LED光源装置の使用例

ウエハー透過によるパターン検出

ウエハー透過によるパターン検出
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP
https://www.u-technology.jp/case/2809
課題:表面の状態しか確認ができない

半導体ウエハーの検査では、裏面側にカメラや光学系を設置できない場合があります。そのため、透過光を利用して表面側から裏面の状態を確認することが求められます。

従来の照明では940nmまでの波長しか利用できず、ウエハーを透過させることができませんでした。その結果、表面の状態しか観察できず、裏面のパターン確認には限界がありました。

ウエハー透過によるパターン検出
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP
https://www.u-technology.jp/case/2809
結果:表面側からでも
裏面パターンを鮮明に可視化

ユーテクノロジーのハイパワー近赤外LED光源シリーズでは、1,000nm以上の波長を用いることで、ウエハーの透過観察が可能に。表面側からでも裏面パターンを鮮明に捉えることができるようになりました。

さらに、ハイパワー光源を採用することで従来なら露光に時間がかかっていた検査もスムーズに対応。高速ラインやタクト短縮が求められる検査工程でも、安定した判定が可能になります。

参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2809

近赤外を使用したフィルムのアライメント(貼り合わせ精度検査)

近赤外を使用したフィルムのアライメント
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP
https://www.u-technology.jp/case/2816
課題:正確な認識が困難で精度が低下

基板へのフィルム貼り合わせ工程では、アライメントマークを基準に位置決めを行います。しかし、可視光照明ではマークが薄くコントラストが低いため正確な認識が困難。

加えて、可視光ではフィルムの透過率が低く、貼り合わせポイントの視認性も悪化。その結果、アライメント精度の低下につながります。

近赤外を使用したフィルムのアライメント
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP
https://www.u-technology.jp/case/28169
結果:貼り合わせポイントの
視認性も改善

ユーテクノロジーのハイパワー近赤外LED光源に切り替えることで、フィルム上のアライメントマークを鮮明に強調できるようになりました。

近赤外光によりフィルムの透過率が向上し、貼り合わせポイントの視認性も改善。結果として、アライメント精度の向上に成功し、安定した位置合わせを実現しました。

参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2816
CHECK
ユーテクノロジーとあわせて
比較したいLED光源装置は?

ユーテクノロジーは、µm精度の寸法測定や位置ズレ検出、近赤外・SWIRを使った透過観察を検討したい企業に向いているメーカーです。一方で、外観検査用のLED光源装置は、画像処理・自動検査・目視検査など、検査目的によって重視すべき性能が変わります。

「微細な寸法ズレを測りたい」「欠けや異物を安定して検出したい」「目視検査で印字や組付け不良を見やすくしたい」など、自社の課題に近い目的から比較することで、導入すべきLED光源装置を絞り込みやすくなります。

当サイトでは、LED光源装置メーカーを調査し、外観検査の目的別に3社を厳選して紹介しています。おすすめの業界や導入事例も紹介しているので是非チェックしてみてください。

LED光源装置は、画像処理・自動検査・目視検査など、用途によって求められる性能が異なります。このサイトでは外観検査の目的別におすすめ装置をご紹介。自社に合う光源選びの参考にしてください。

ユーテクノロジーの会社情報

会社名株式会社ユーテクノロジー
本社所在地東京都板橋区成増2-10-3 三栄ドメール305
電話番号03-6904-3498
公式サイトURLhttps://www.u-technology.jp/

まとめ

ユーテクノロジーは、μm単位の寸法測定や位置ずれ検出に対応する検査用LED光源装置を展開するメーカーです。特許取得の非結像光学系と光量フィードバック制御により、照度ムラや経時変化を抑えた安定照射を実現。

半導体や電子部品の外観検査で高い再現性を発揮し、透過観察や貼り合わせ精度検査など、多様な工程で活用されています。

外観検査では、“何をどのように検出したいか”によって、求められる照明の要件が大きく変わります。当サイトでは、装置の特徴と検査目的を掛け合わせ、目的に応じて活用しやすいLED光源装置を厳選しました。

導入やリプレイスを検討している企業の担当者はぜひ参考にしてください。

LED光源装置メーカー
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THREE SELECTIONS
【検査目的別】
外観検査に適した
LED光源装置3選

検査工程では、用途に応じて必要な明るさで対象を照らすことが求められます。
しかし目的によって必要な光の条件が異なり、装置の選定に迷うケースも少なくありません。
こうした現場での課題に応えるため、検査目的別に適したLED光源装置をおすすめ3選を紹介します。

μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレ
正確に測ることができる
ユーテクノロジー
製品画像
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/product/2531)
導入しやすい業界例
  • 半導体業界
  • 電子部品業界など
要件を満たせる検査例
  • 寸法検査
  • 位置ずれ検出
  • 貼り合わせ精度検査
  • パターンずれ検出
  • 形状検査
ユーテクノロジーが
選ばれる理由
  • 特許取得※1の非結像光学系により、1,000nm以上のSWIR領域でも鮮明に映し出す
  • 自社製造の光源とファイバーにより、適切な組み合わせで光ロスやムラを抑制して微細欠陥を可視化
  • 半導体のPINアサイン確認や基板実装後の部品検査など、高精度検査の導入実績あり※2
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物
安定的に検出できる
アイテックシステム
製品画像
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/)
導入しやすい業界例
  • 自動車部品業界
  • 食品・飲料業界など
要件を満たせる検査例
  • 異物混入検査
  • 欠け検出
  • バリ検出
  • 色ムラ検査
アイテックシステムが
選ばれる理由
  • 230,000lxの高照度でコントラストが明瞭になり、微細な不良を見逃しにくい
  • LANや端子台で照明制御が可能で、カメラやPLCとも連携しやすく自動検査の構築がスムーズ
  • 冷却と定電流制御で照度が安定し、常時点灯や連続稼働が前提でも判定ブレが起きにくい
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良
はっきり確認できる
中央精機
製品画像
画像引用元:中央精機公式HP(https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955)
導入しやすい業界例
  • 化粧品・日用品業界
  • 電気機械器具業界など
要件を満たせる検査例
  • ラベル位置検査
  • 印字抜け検査
  • 印字不良検査
  • ネジの有無検査
  • 組付けミス
  • 方向ずれ検査
中央精機が
選ばれる理由
  • 約45,000lxの自然な明るさで、ラベル印字の擦れやかすれをはっきり確認
  • ダイヤルで直感的に調光でき、作業者や環境に合わせた見え方調整ができる
  • 筐体幅80mm未満・高さ144mmのコンパクト設計で、狭い作業空間にも設置しやすい
※1 特許7060932 参照元:J-PlatPat(特許情報プラットフォーム)公式HP(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja
※2 参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case
検査のイメージ

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